光纖數值孔徑是光纖能接收光輻射角度范圍的參數,同時它也是光纖和光源、光檢測器、以及其它光纖耦合效率的重要參數;同時對連接損耗、微彎損耗以及衰減溫度特性、傳輸帶寬等都有影響。
光纖數值孔徑測試實驗儀就是本公司針對光纖數值孔徑測量所研發的一款實驗儀,該儀器可以讓學生通過自己搭建系統,掌握光路調整方法,并直觀的了解光纖數值孔徑測量原理,同時還可以通過儀器現有平臺開展光纖傳感原理實驗,鍛煉了學生動手動腦能力。
光纖數值孔徑(NA)測試注意事項:
測試環境控制:
光源穩定性:需使用高穩激光光源(如1310nm/1550nm),避免功率波動影響遠場光強分布測量精度。
環境光干擾:測試區域應遮光,防止雜散光干擾功率計讀數,建議使用防護擋板
樣品準備與校準:
端面處理:光纖端面需清潔無劃痕、崩邊或污染(如灰塵、油污),否則會導致反射損耗增加或NA值偏差。
光纖固定:需拉直光纖并避免彎曲,彎曲半徑過小可能引入附加衰減,影響NA測試結果
數據采集與分析:
動態范圍:功率計需具備足夠動態范圍,以準確捕捉低強度邊緣光信號。
多次測量:建議重復測試3次以上取平均值,減少隨機誤差。
設備維護與驗證:
定期校準:測試儀需定期用標準光纖(如NA=0.22的標定光纖)校準,確保系統誤差<0.01。
盲區管理:近場掃描法需注意脈沖寬度設置,過大的脈寬會增大盲區,影響短距離事件定位。